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1.
著者: Moaveni
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2021
文献类型: 图书 , 索书号: O241.82/18.英文版
2.
著者: 布朗森
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2018
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/2554
3.
C陷阱与缺陷:英文版 已借3次.
著者: 凯尼格
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/1821.英文版