检索
高级检索
书目浏览
中图分类浏览
科图分类浏览
我的图书馆
网上办证
新书通报
中图分类查看
科图分类查看
精品图书
信息公告
全馆预约到馆通知
全馆图书催还通知
全馆预借到馆通知
所有标签
图书专题
图书荐购
历史荐购
读者荐购
征订书目
语言:
中文
登录
语言:
中文
登录
前方一致
模糊检索
精确检索
任意词
题名
正题名
ISBN/ISSN
著者
主题词
分类号
控制号
订购号
出版社
索书号
q=%E6%9F%A5%E5%85%8B%E6%8B%89%E5%B7%B4%E8%92%82&searchType=standard&isFacet=true&view=standard&searchWay=author&rows=10&sortWay=score&sortOrder=desc&searchWay0=marc&logical0=AND
rows=10&searchWay0=marc&logical0=AND
名称:
描述:
公开/私有:
公开
私有
标题:
描述:
公开/私有:
公开
私有
检索词:
查克拉巴蒂
, 检索到: 1 条结果, 检索时间: 0.018 秒 , 排序选项:
匹配度
出版日期
主题词
题名
著者
索书号
题名拼音
借阅次数
续借次数
题名权重
正题名权重
卷册号
排序方式:
降序排列
升序排列
隐藏分类导航
查克拉巴蒂
CADAL电子资源
集群图书馆
分类导航
T 工业技术
(1)
图书馆
青岛科技大学图书馆
(1)
显示更多..
馆藏地点
崂山图书阅览室
(1)
崂山综合书库
(1)
四方工科图书阅览室
(1)
高密样本书库
(1)
高密综合书库
(1)
四方科技书库
(1)
显示更多..
主题
mos集成电路
(1)
纳米材料
(1)
缺陷检测
(1)
显示更多..
著者
(美) 桑迪普 k. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
(1)
戈埃尔
(1)
查克拉巴蒂
(1)
续海涛
(1)
续海涛等译
(1)
显示更多..
出版日期
2016
(1)
显示更多..
文献类型
图书
(1)
显示更多..
语言种类
汉语
(1)
显示更多..
在馆
在馆
(1)
显示更多..
保存至书单:
创建新书单
共 1 页
首页
<上一页
1
下一页>
尾页>>
1.
纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
订购中
著者:
戈埃尔
查克拉巴蒂
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2016
文献类型:
图书 , 索书号:
TN432/22
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
共 1 页
首页
<上一页
1
下一页>
尾页>>