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恩云飞
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著者
恩云飞
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何小琦
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何小琦,恩云飞,周斌编著
(2)
工业和信息化部电子第五研究所组编
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来萍
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何小琦,恩云飞,宋芳芳编著
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1.
电子元器件失效分析与典型案例
订购中
著者:
孔学东
恩云飞
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2006
文献类型:
图书 , 索书号:
TN6/29
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著者简介
2.
电子微组装可靠性设计.应用篇
订购中
著者:
何小琦
恩云飞
周斌
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2022
文献类型:
图书 , 索书号:
TN605/10.应用篇
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内容简介
著者简介
3.
电子元器件失效分析技术
已借2次.
订购中
著者:
恩云飞
来萍
李少平
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015.10
文献类型:
图书 , 索书号:
TN6/62
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内容简介
著者简介
4.
集成电路封装可靠性技术
订购中
著者:
周斌,恩云飞,陈思编著
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2023.11
文献类型:
图书 , 索书号:
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内容简介
著者简介
5.
电子微组装可靠性设计
订购中
著者:
何小琦,恩云飞,周斌编著
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2022.03
文献类型:
图书 , 索书号:
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内容简介
著者简介
6.
电子微组装可靠性设计.基础篇
订购中
著者:
何小琦
恩云飞
宋芳芳
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2020
文献类型:
图书 , 索书号:
TN605/10.基础
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内容简介
著者简介
7.
可靠性物理
订购中
著者:
恩云飞
谢少锋
何小琦
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015
文献类型:
图书 , 索书号:
TN6/66
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内容简介
著者简介
8.
半导体集成电路的可靠性及评价方法
订购中
著者:
章晓文
恩云飞
工业和信息化部电子第五研究所
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015
文献类型:
图书 , 索书号:
TN43/22
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内容简介
著者简介
9.
ESD揭秘:静电防护原理和典型应用
订购中
著者:
沃尔德曼
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2014
文献类型:
图书 , 索书号:
TN430.2/3
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