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q=%E5%BB%96%E5%B9%BF%E5%85%B0&searchType=standard&isFacet=true&view=standard&searchWay=author&rows=10&sortWay=score&sortOrder=desc&searchWay0=marc&logical0=AND
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廖广兰
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1.
工程测试技术基础
订购中
著者:
廖广兰
何岭松
刘智勇
出版社:
华中科技大学出版社
出版日期: 2021
文献类型:
图书 , 索书号:
TB22/43
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2.
倒装芯片缺陷无损检测技术
订购中
著者:
廖广兰
史铁林
汤自荣
出版社:
高等教育出版社
出版日期: 2019
文献类型:
图书 , 索书号:
TN405.94/10
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