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    馆藏地点:

  1. 高密密集书库 x
  2. 高密综合书库 x

    主题:

  1. 研究 x

    文献类型:

  1. 图书 x
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1.
C陷阱与缺陷 已借41次.
著者: 凯尼格
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2008
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/1821
2.
著者: 任致远
出版社: 中国电力出版社   出版日期: 2005
文献类型: 图书 , 索书号: TU984/11
3.
4.
出版社: 江苏凤凰科学技术出版社   出版日期: 2018
文献类型: 图书 , 索书号: TB472/372
5.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2017.12
文献类型: 图书 , 索书号: TP311/369
6.
著者: 王国平
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2017.11
文献类型: 图书 , 索书号: TP31/149
7.
著者: 克里亚
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2017
文献类型: 图书 , 索书号: TP393.4/356
8.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2017
文献类型: 图书 , 索书号: TP393.4/358
9.
著者: 叶韵
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2017
文献类型: 图书 , 索书号: TP302.7/20
10.
出版社: 中国电力出版社   出版日期: 2016
文献类型: 图书 , 索书号: TP242.2/23