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1.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2019
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/2555
2.
著者: 布朗森
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2018
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/2554
3.
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TP312.8/555
4.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2016
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/2193
5.
6.
著者: 王燕
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2017
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/2668
7.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2017
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/1579
8.
C陷阱与缺陷:英文版 已借3次.
著者: 凯尼格
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2015
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/1821.英文版
9.
著者: 瓦格纳
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2018.7
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/2465
10.
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2005.6
文献类型: 图书 , 索书号: TP312/832